UBTS系统被广泛应用于器件研发、认证和批量生产中，其灵活、完善的测试报告软件可以为研发工程师和可靠性工程师提供丰富的信息。

适用范围：

♦ 大规模数字集成电路：MCU、DSP、FPGA、CPU、逻辑器件、接口器件和驱动器件等

♦ 存储器集成电路：SRAM、DRAM、SDRAM、DDR2、EEPROM，Nand Flash（PARALLEL, SERIAL），Nor Flash （PARALLEL SERIAL）等

♦ 混合集成电路：ADC，DAC，DC/DC，Smart power supplier，OP-AMP，Voltage Regulator，Analog Switch，Analog Multiplexer等;

♦ 特殊器件：ASIC、SOC、Medical、Sensor和客户定制等器件。

产品特点：

♦ 基于独一无二超强功能的PTDM模块，将图形产生和测试驱动合二为一；

♦ 50MHz的系统主时钟，可以实现高频率的功能测试；最小可编程脉冲宽度10ns；

♦ 实现了老化情况下的器件功能测试；

♦ 一台系统可以实现数字集成电路、存储器电路和混合集成电路的老化和功能测试；

♦ 容易实现批器件的可靠性评估及性能参数分布分析，如批存储器10万次的有效擦写可靠性评估等；

♦ 每个BIB对应一个PTDM模块，每个PTDM模块都有自己的微处理器单元，使不同的BIB可以单独运行不同类型的老炼程序（利用Firmware）；

♦ 12到48插槽的老炼箱可以选择，还能为客户提供定制的老炼箱柜；

♦ 每个PTDM模块，可以配置多达6个程控电源（选件）；可为每个老化板提供高达104A的老化电流，提高了每个老化板的老化器件的数量。老化电压可以并联使用；

♦ 另外每个PTDM模块还配置了4路可编程参考电源（Vref）；

♦ 配合EDA的HD/H型BIB，有多达480个金手指和44个低插入力的电源通道，大大提升了提供给每个老化板的综合电流能力。每个老化板的信号连续驱动电流高达15A；

♦ 1G超大矢量存储器；

♦ 每个PTDM模块均有时钟发生器、地址发生器（包括1个16位加减Refresh地址计数器）、数据发生器、扫描发生器、图形发生器和信号格式化器等信号发生能力，满足各种器件的功能测试要求；

♦ 算法图形发生器实现存储器激励信号的产生和输出信号监测

♦ I/O通道均具备三态编程控制及信号格式化（NRZ, DNRZ, RTZ, RTO, SBC,FORCE）能力，最多可以多达16组；

♦ 具备拓扑及多路转换功能；

标准规格或主要参数：

♦ 老化箱温度范围：RT+20℃～+150℃或-40℃～+150℃可选；

♦ 12插槽、24插槽和48插槽老化箱可选，PTDM模块可以任意选配；

♦ HD/H老化板标准尺寸：440mm X 570mm；

♦ 每个PTDM模块的主要参数：

 ▶ 1G矢量存储器和失效存储器；

 ▶ 主时钟：50MHz，定时分辨率：10ns；

 ▶ 最多可提供256 I/O通道，48个激励信号通道和32个特殊监测通道；

 ▶ 多达4组不同的Vih和Vil数字信号电平编程设置能力，保证混合工艺器件的功能测试能力；

 ▶ Vih编程范围：0-8V、Vil编程范围（最大）：-0.5V～2V；测试阈值电平Vth编程范围：0V～8V；

 ▶ 48路激励通道具备超高信号高电平Vihh的编程能力，编程范围：0V～15V；

 ▶ On-the -fly时钟边沿设置数量：32个；

 ▶ I/O通道具备NRZ, DNRZ, RTZ, RTO等格式化编程能力；

 ▶ 最大通道矢量深度：32M

 ▶ 每个信号通道的连续驱动电流能力：200mA，峰值驱动电流：3A；

 ▶ 4路可编程参考电压，另外最多可选配6组程控老化电源，最大可为单个老化板提供108A老化电流；

 ▶ 可选配模拟模块，每个模块的模拟通道：4路，具备各种标准模拟信号的产生能力；