产品中心 > UBTS HP系列—通用型大功率集成电路老炼和测试系统
1(1).jpg
  • 1(1).jpg

UBTS HP系列—通用型大功率集成电路老炼和测试系统

当今独一无二的老化和测试系统解决方案,同时满足认证和量产的需要
灵活可变的H/W和可重复定义的软件架构,满足了不同类型的器件的老化测试要求,包括:数字器件、存储器器件、混合器件和客户定制器件;
每个插槽均可配备独立的PTDM模块(图形测试驱动模块),该模块包括了强大的图形发生功能和测试驱动功能。

◆一块PTDM板对应一块BIB,每个PTDM可以单独运行不同的老炼程序 

◆可以为每块BIB提供多达16路程控电源,可监测每个DUT的电压和电流 

◆利用isocket技术,老炼时每个DUT的表面温度可以单独调控, 保证了大功率器件老炼温度不均匀的问题 

◆特殊设计的特大内部耗散能力老炼箱柜,满足了大功率器件的老炼要求



◆12、24BIB插槽老炼箱柜 

◆20KW以上耗散功率,带机械制冷 

◆336个信号通道,256+32个I/O通道,48个激励信号通道 

◆512M矢量存储器,8K失效RAM 

◆8+8路可编程时钟 

◆32个时钟边沿 

◆每块驱动板可带一个模拟驱动测试模块 

◆44个大电源通道,每个通道最大电流8A 

◆4路模拟通道,输出正弦、三角、方波等信号 

◆最高频率:50MHz

◆连续驱动电流能力:125mA

◆可编程电源:3路,单路最大150W,可扩展大功率电源600W 

◆Vih:0 V~15.5 V 

◆Vil:-0.5V~4.5V

◆Vth:1V~14V 

◆VOH/VOL:-10V~14V