离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备。原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGEI经过长时间的测试(T-1000小时)井观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION)，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻。力电阻试验，或者是OPEN/SHCRT试验。我们将其统称为绝缘劣化试验。