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高低温气流冲击仪

适用于各类半导体芯片(如:Flash、EMMC等)、PCB电路板、光通信产品(如:收发器、SFP光模块等)和电子行业产品的高低温测试、温度循环测试、温度冲击测试等可靠性试验和失效分析等。

1、左右两侧开引线孔
2、自复叠式制冷系统
3、设备燥声控制 65dB

结构特点:

  • 温度冲志范围:-65℃~+220℃

  • 温度分辨率:≤0.1 ℃

  • 制冷剂:混合制冷剂

  • 温度监控:1支T型热电偶1支K型热电偶

  • 系统接口:USD、LAN、GPIB、RS232

  • 温度转换时间:≤10S

  • 温度波度:±0.3

  • 冷却方式:风冷

  • 换热器:套管式

  • 控制器:西门子控制器


工作原理:
1、试验机输出汽流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验。
2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快。
3、将被控温度的压缩机空气从气嘴喷射出来,仅仅只需要数秒钟的时间就可以达到一个温度试验必须的环境,与普通的高低温冲击试验箱相比较,大大的缩短了试验时间,提高生产效率。


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