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PBTS 老化板预测和老化程序调试台

PBTS(Pre Burn-in Test Station)老化板预测和老化程序调试台是EDA公司开发的一款具有高性能和超过实用性的测调系统,通过PBTS用户可以实现对装载好的BIB进行参数测试和功能测试,确保BIB的功能的正确,利用PBTS用户也可以实现新老化器件的老化测试程序的开发和调试、原有老化测试程序的修改调试等工作,大大节省了UBTS老化测试系统的使用效率。

PBTS的外形图:

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适用范围:

♦ 大规模数字集成电路:MCU、DSP、FPGA、CPU、逻辑器件、接口器件和驱动器件等

♦ 存储器集成电路:SRAM、DRAM、SDRAM、DDR2、EEPROM,Nand Flash(PARALLEL, SERIAL),Nor Flash (PARALLEL SERIAL)等

♦ 特殊器件:ASIC、SOC、Medical、Sensor和客户定制等器件。

♦ HD和HD/H型老化板的参数测试

 

产品特点:

♦ 一个老化板的插槽能力;

♦ 手动老化板拔插结构(可选择自动老化板拔插机构);

♦ 由PMU实现参数测试;

♦ 基于一个PTDM模块,具备矢量图形和算法图形产生和测试驱动能力;

♦ 50MHz的系统主时钟,可以实现高频率的功能测试;最小可编程脉冲宽度10ns;

♦ 可以实现数字集成电路、存储器电路和混合集成电路的功能测试能力;

♦ 最多可以配置多达6个程控电源(选件);可以提供高达104A的电流,老化电源可以并联使用;

♦ 还配置了4路可编程参考电源(Vref);

♦ 1G超大矢量存储器;

♦ PTDM模块均有时钟发生器、地址发生器(包括1个16位加减Refresh地址计数器)、数据发生器、扫描发生器、图形发生器和信号格式化器等信号发生能力,满足各种器件的功能测试要求;

♦ 算法图形发生器实现存储器激励信号的产生和输出信号监测

♦ I/O通道均具备三态编程控制及信号格式化(NRZ, DNRZ, RTZ, RTO, SBC,FORCE)能力,最多可以多达16组;

♦ 具备拓扑及多路转换功能。

 

标准规格或主要参数:

♦ 适合于EDA的HD型和HD/H型老化板;

♦ PMU的主要性能:

♦ PTDM模块的主要参数:

 → 1G矢量存储器和失效存储器;

 → 主时钟:50MHz,定时分辨率:10ns;

 → 最多可提供256 I/O通道,48个激励信号通道和32个特殊监测通道;

 → 多达4组不同的Vih和Vil数字信号电平编程设置能力,保证混合工艺器件的功能测试能力;

 → Vih编程范围:0-8V、Vil编程范围(最大):0V~2V;测试阈值电平Vth编程范围:0V~8V;

 → 48路激励通道具备超高信号高电平Vihh的编程能力,编程范围:0V~15V;

 → On-the -fly时钟边沿设置数量:32个;

 → I/O通道具备NRZ, DNRZ, RTZ, RTO等格式化编程能力;

 → 最大通道矢量深度:32M

 → 每个信号通道的连续驱动电流能力:200mA,峰值驱动电流:3A;

 → 4路可编程参考电压,另外最多可选配6组程控老化电源,最大可提供108A老化电流;

 → 可选配模拟模块,每个模块的模拟通道:4路,具备各种标准模拟信号的产生能力;