集成电路常用的可靠性测试方法说明（1）—HTOL

HTOL/ LTOL  :    

High/ Low Temperature Operating Life

Purpose:  评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力

Test condition:  125C，1.1VCC, 动态测试

Failure Mechanisms：电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性，离子玷污等